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从传感器到控制系统:纸箱抗压试验机的测力精度与位移控制关键技术

发布日期: 2025-12-22
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       纸箱抗压试验机的测力精度与位移控制是其核心性能指标,直接决定测试结果的可靠性与重复性,关键技术可从传感器精度、驱动系统设计及闭环控制算法三方面解析。
  在传感器精度方面,高精度力值传感器是数据采集的基石。现代设备普遍采用24位高精度AD转换器,配合防爆型压力传感器,将机械形变转化为电信号时,分辨率可达1/10,000,000,力值测量误差控制在±0.01%满量程以内。例如,在测试50kN量程的纸箱时,传感器可精确捕捉0.5N的微小变化,确保数据采集的实时性与准确性。同时,传感器需通过动态校准技术消除温度、振动等环境干扰,在-10℃至50℃范围内进行温度补偿,避免热胀冷缩导致的测量偏差。
  驱动系统设计方面,设备多采用双丝杠立式结构,由伺服电机驱动同步带与高精密滚珠螺杆传动,实现压板的匀速直线运动。例如,某设备通过双轴电机联动控制,压板移动速度误差≤±1%,配合弹簧阻尼减震器,可消除机械共振与噪声干扰。在位移分辨率上,设备通过光栅尺或磁栅尺实现0.01mm的微米级定位,确保测试过程的稳定性。
  闭环控制算法方面,设备搭载ARM处理器与变频调速系统,通过PID控制算法实时调整压板速度与压力。例如,在定压力测形变模式下,系统以1000Hz采样频率监测压力值,当实际压力偏离设定值时,自动调节电机转速以修正偏差;在堆码试验中,系统可模拟24小时持续加压,通过压力-时间曲线分析纸箱的蠕变特性。
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